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仪器名称 |
台阶仪 |
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型号规格 |
D-100 |
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价值(万元) |
24.4 |
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产地 |
美国-KLA |
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购置日期 |
2012.12.1 |
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主要技术指标 |
测量厚度0.1微米~1mm,测量长度 1mm~1cm |
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应用范围 |
用于测试薄膜的厚度 |

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仪器名称 |
台阶仪 |
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型号规格 |
D-100 |
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价值(万元) |
24.4 |
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产地 |
美国-KLA |
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购置日期 |
2012.12.1 |
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主要技术指标 |
测量厚度0.1微米~1mm,测量长度 1mm~1cm |
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应用范围 |
用于测试薄膜的厚度 |