仪器名称 |
台阶仪 |
型号规格 |
D-100 |
价值(万元) |
24.4 |
产地 |
美国-KLA |
购置日期 |
2012.12.1 |
主要技术指标 |
测量厚度0.1微米~1mm,测量长度 1mm~1cm |
应用范围 |
用于测试薄膜的厚度 |

仪器名称 |
台阶仪 |
型号规格 |
D-100 |
价值(万元) |
24.4 |
产地 |
美国-KLA |
购置日期 |
2012.12.1 |
主要技术指标 |
测量厚度0.1微米~1mm,测量长度 1mm~1cm |
应用范围 |
用于测试薄膜的厚度 |